目標零缺陷!半導體自動化教父力推智慧工廠AI即時全檢平臺,要讓更多製造業邁向工業4.1

有半導體自動化教父之稱的成大智慧製造研究中心教授鄭芳田整合多年研究成果,和團隊一起建造iFA智慧工廠自動化雲平臺,其中的AVM能即時檢測產線所有產品、IPM能預測機臺壽命、IYM則可針對瑕疵品,利用關鍵參數搜尋演算法(KSA)找出瑕疵原因。此外,團隊也正導入容器技術,要讓iFA平臺更完善,將製造業推向工業4.1,達到零瑕疵境界。

2019-07-12