東芝週三(12/12)表示已研發新型快閃記憶體製造技術,並且在15nm線幅的記憶體迴路中試作成功。這代表未來在不改變現有快閃記憶體的尺寸下,最大可產製100GB容量的快閃記憶體產品。
東芝在發表會中說明,目前將以5年內技術實用化為目標持續進行研發,屆時數位相機等使用快閃記憶體的產品在容量方面都將有5~6倍以上的提升。
此技術使用球徑1.2nm的矽結晶體與1nm的氧化物薄膜製造出雙層連接構造,利用不同電壓讓薄膜抵抗性大幅變化,藉此兼顧長時間記憶保存和高速寫入/刪除的效能。
在提升電荷蓄積量方面將以往氮化矽(silicon nitride)Si3N4的調製比率更改為Si9N10,在實驗中逐步調整各元件與裝置後,驗證試作品可維持10年以上的記憶性能。
本技術已在12/10美國華盛頓州舉辦的國際電子元件會議IEDM中正式發表。(編譯/張嵐霆)
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